液晶の常光および異常光屈折率の高精度測定

• 大野 友嗣

• 石鍋 隆宏

• 宮下 哲哉

Bibliographic Information

Other Title

• エキショウ ノ ジョウコウ オヨビ イジョウコウ クッセツリツ ノ コウセイド ソクテイ
• Highly accurate method for measuring ordinary and extraordinary refractive indices of liquid crystal materials
• 電子ディスプレイ
• デンシ ディスプレイ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (453), 89-92, 2008-01

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 液晶
• 常光屈折率
• 異常光屈折率
• セル厚
• 多重反射
• 多重干渉
• ジョーンズ行列
• Liquid Crystal
• Ordinary refractive index
• Extraordinary refractive index
• Cell thickness
• Multiple reflection
• Multiple Interference
• Jones matrix

Details

• CRID: 1520290882496150656
• NII Article ID: 110006613758
• NII Article ID: 10025648523
• NII Article ID: 40015852087
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• ISSN: 13426893
• NDL BIB ID: 9377427
• NDL BIB ID: 9366015
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/9377427
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9377427
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/9366015
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9366015
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles