A more improved technique on the stochastic functional approach for randomly rough surface scattering (光エレクトロニクス)

収録刊行物

電子情報通信学会技術研究報告  

電子情報通信学会技術研究報告 109(402), 205-210, 2010-01-28 

電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    40016967965
  • NII書誌ID(NCID) :
    AN10442691
  • 本文言語コード :
    ENG
  • 資料種別 :
    特集
  • ISSN :
    09135685
  • NDL 記事登録ID :
    10555073
  • NDL 雑誌分類 :
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号 :
    Z16-940
  • 収録DB :
    NDL