特別招待講演 半導体発光デバイスの信頼性研究 : 総論と1990年代以降のトピックス

• 上田 修

書誌事項

タイトル別名

• トクベツ ショウタイ コウエン ハンドウタイ ハッコウ デバイス ノ シンライセイ ケンキュウ : ソウロン ト 1990ネンダイ イコウ ノ トピックス
• Special Invited Talk : Study on Reliability of Semiconductor Optical Devices : General Remarks and Topics since the Early 1990s
• レーザ・量子エレクトロニクス
• レーザ ・ リョウシ エレクトロニクス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (184), 27-32, 2012-08

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体
• 窒化物半導体
• 半導体レーザ
• LED
• 劣化
• 転位
• 点欠陥
• TEM
• PL
• Ⅲ-Ⅴ Compound Semiconductor
• Nitride semiconductor
• Semiconductor Laser
• Degradation
• Dislocation
• Point Defect

詳細情報

• CRID: 1520009407090202752
• NII論文ID: 110009626932
• NII論文ID: 110009627046
• NII論文ID: 110009627106
• NII論文ID: 110009627211
• NII論文ID: 110009627250
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 023938471
• NDL書誌ID: 023935038
• NDL書誌ID: 023936916
• NDL書誌ID: 023938045
• NDL書誌ID: 023937502
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023938471
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023935038
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023936916
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023938045
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I023937502
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles