FIBによるその場電顕観察用試料の作製と材料科学への応用<br/>—FIBとガラスマニピュレータによるTEM試料作製—

• 鈴木 俊明

  日本電子株式会社 SM 事業ユニット SM アプリケーション部

• 高橋 可昌

  関西大学 システム理工学部機械工学科

書誌事項

タイトル別名

• Specimen Preparation Methods with FIB for <i>In-Situ</i> TEM Observations in Materials Science<br/>—TEM Specimen Preparation by FIB with Glass Manipulator—
• FIB ニ ヨル ソノ ジョウデンケンカンサツヨウ シリョウ ノ サクセイ ト ザイリョウ カガク エ ノ オウヨウ : FIB ト ガラスマニピュレータ ニ ヨル TEM シリョウ サクセイ

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 51 (12), 545-551, 2012

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• focused ion beam (FIB)
• glass manipulator
• transmission electron microscope (TEM)
• in-situ
• indenter
• domain switching

詳細情報

• CRID: 1390001204079181440
• NII論文ID: 10031127731
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.51.545
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• NDL書誌ID: 024135324
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/024135324
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024135324
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia/51/12/51_545/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN