絶縁性試料の光電子顕微鏡（PEEM）観測

• 大河内 拓雄

  （公財) 高輝度光科学研究センター

書誌事項

タイトル別名

• Photoemission Electron Microscopy (PEEM) on Insulating Samples
• ゼツエンセイ シリョウ ノ コウデンシ ケンビキョウ(PEEM)カンソク

抄録

The observation method of photoemission electron microscopy (PEEM) on insulating samples has been established by introducing simple Au pattern evaporation equipment. Surface conductivity is induced locally on an insulating surface by continuous radiation of soft x-rays, and Au films close to the area of interest allow the accumulated charges to be released to a ground. Using this technique, all usersʼ experiments on poorly conducting samples have been performed successfully at the PEEM experimental station in SPring-8.

収録刊行物

• 表面科学

  表面科学 34 (11), 586-591, 2013

  公益社団法人 日本表面科学会

キーワード

• PEEM
• insulator
• pattern evaporation
• ferrite

詳細情報

• CRID: 1390282681436222592
• NII論文ID: 130004486808
• NII論文ID: 40019861883
• NII書誌ID: AN00334149
• DOI: 10.1380/jsssj.34.586
• ISSN: 18814743
• ISSN: 03885321
• NDL書誌ID: 024993518
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/024993518
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I024993518
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可