Bibliographic Information
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- GaN-HEMT スイッチング カイロ ニ オケル フヨウ デンジハ ノ ホウシャ トクセイ ノ ヒョウカ
- Evaluation of unwanted radiated emission from GaN-HEMT switching circuit
- 電子デバイス
- デンシ デバイス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 (329), 117-120, 2013-11
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410144122368
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- NII Article ID
- 110009888000
- 110009889642
- 110009888026
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles