X線光電子分光法

• 井上 りさよ

  アルバック・ファイ㈱市場開発部

• 眞田 則明

  アルバック・ファイ㈱市場開発部

書誌事項

タイトル別名

• X-Ray Photoelectron Spectroscopy
• 最新表面科学講座(第21講)X線光電子分光法
• サイシン ヒョウメン カガク コウザ(ダイ21コウ)Xセン コウデンシ ブンコウホウ

抄録

X線光電子分光法（XPS：X-ray Photoelectron Spectroscopy，またはESCA：Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）は，固体表面数nm（数十原子層）の深さ領域における化学情報を分析する手法であり，今日最も広く用いられている表面分析手法の一つである。 本稿では，XPSの簡単な原理，測定法および応用例について概説した。

収録刊行物

• 色材協会誌

  色材協会誌 87 (2), 59-63, 2014

  一般社団法人 色材協会

キーワード

• Differential Charge
• 化学シフト
• 波形分離

詳細情報

• CRID: 1390282679115720960
• NII論文ID: 130004516280
• NII書誌ID: AN00354634
• DOI: 10.4011/shikizai.87.59
• ISSN: 18832199
• ISSN: 0010180X
• NDL書誌ID: 025289732
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025289732
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可