高速原子間力顕微鏡（HS-AFM）の 技術動向

• 森居 隆史

  （株）生体分子計測研究所

• 岡田 孝夫

  （株）生体分子計測研究所

• 小谷 則遠

  （株）生体分子計測研究所

書誌事項

タイトル別名

• Technical Trend of High-Speed Atomic Force Microscopy
• コウソク ゲンシ カンリョク ケンビキョウ(HS-AFM)ノ ギジュツ ドウコウ

収録刊行物

• 電気設備学会誌

  電気設備学会誌 34 (4), 247-251, 2014

  一般社団法人 電気設備学会

キーワード

• 高速AFM
• 可視化
• 動的観察
• ナノテクノロジー

詳細情報

• CRID: 1390282680722317312
• NII論文ID: 130004690574
• NII論文ID: 40020056947
• NII書誌ID: AN10067173
• DOI: 10.14936/ieiej.34.247
• ISSN: 21886946
• ISSN: 09100350
• NDL書誌ID: 025441600
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/025441600
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I025441600
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles