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- 吉田 弘幸
- 京都大学 化学研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Development of low-energy inverse photoemission spectroscopy and its application to organic electronics
- テイエネルギー ギャクコウデンシ ブンコウホウ ノ カイハツ ト ユウキ エレクトロニクス エ ノ オウヨウ
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抄録
<p>有機半導体のLUMO準位(空準位,電子親和力)のエネルギーについての情報は,電子伝導に関わることから有機エレクトロニクスにとって重要である.それにもかかわらず,これまで適当な実験手法がなく,測定が困難であった.我々は,低エネルギー逆光電子分光法という新しい測定法を開発し,有機デバイスと同じく薄膜試料についてのLUMO準位の精密測定が可能になった.本稿では,その原理や特徴について述べる.また,有機発光素子や有機太陽電池などの有機エレクトロニクスへの本手法の応用例についても紹介する.</p>
収録刊行物
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- 応用物理
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応用物理 84 (3), 245-249, 2015-03-10
公益社団法人 応用物理学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282752334108544
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- NII論文ID
- 130007718741
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- NII書誌ID
- AN00026679
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- ISSN
- 21882290
- 03698009
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- HANDLE
- 2433/196199
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- NDL書誌ID
- 026219334
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- IRDB
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可