低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体の電子親和力の測定技術

• 吉田 弘幸

書誌事項

タイトル別名

• テイエネルギー ギャクコウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル ユウキ ハンドウタイ ノ デンシ シンワリョク ノ ソクテイ ギジュツ
• Low-Energy Inverse Photoemission Spectroscopy : A New Tool to Investigate Electron Affinities of Organic Semiconductors
• 次世代太陽電池材料の光計測分析技術
• ジセダイ タイヨウ デンチ ザイリョウ ノ ヒカリ ケイソク ブンセキ ギジュツ

収録刊行物

• 光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan

  光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan 44 (3), 98-104, 2015-03

  東京 : 日本光学会

キーワード

• low-energy inverse photoemission spectroscopyd
• organic semiconductor
• electron affinity
• LUMO level

詳細情報

• CRID: 1520009407902601472
• NII論文ID: 40020422372
• NII書誌ID: AN00080324
• ISSN: 03896625
• NDL書誌ID: 026308255
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026308255
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles