低密度ポリエチレンの耐候性試験機による劣化挙動の比較

• 三輪 貴志

  日本電信電話株式会社 環境エネルギー研究所

• 竹下 幸俊

  日本電信電話株式会社 環境エネルギー研究所

• 赤毛 勇一

  東日本電信電話株式会社 技術協力センタ

• 渡辺 正満

  東日本電信電話株式会社 技術協力センタ

• 高谷 雅昭

  東日本電信電話株式会社 技術協力センタ

• 澤田 孝

  日本電信電話株式会社 環境エネルギー研究所

書誌事項

タイトル別名

• Comparison of Photo Degradation Behavior of LDPE using Accelerated Weathering Instruments
• テイミツド ポリエチレン ノ タイコウセイ シケンキ ニ ヨル レッカ キョドウ ノ ヒカク

抄録

耐候性試験装置および屋外暴露で低密度ポリエチレンを劣化させ，強度・伸び，IRスペクトル，分子量分布の変化挙動を分析した．屋外劣化試料と最も近い分子量分布の変化挙動を再現できたのは紫外蛍光ランプ式促進耐候性試験装置（UVB-313ランプ）を用いて高温で劣化させた試料であった．高温では分子鎖切断よりも分子間の架橋が促進されるため，屋外暴露同様の高分子量成分の増加を再現できたことが原因と考えられる．

収録刊行物

• Ｚａｉｒｙｏ‐ｔｏ‐Ｋａｎｋｙｏ

  Ｚａｉｒｙｏ‐ｔｏ‐Ｋａｎｋｙｏ 64 (4), 139-144, 2015

  公益社団法人 腐食防食学会

キーワード

• 低密度ポリエチレン
• 紫外線
• 劣化
• 分子量
• 促進耐候性試験
• 屋外暴露
• 架橋
• 分子鎖切断
• 高分子量

詳細情報

• CRID: 1390001206257927424
• NII論文ID: 130005108422
• NII書誌ID: AN10235427
• DOI: 10.3323/jcorr.64.139
• ISSN: 18819664
• ISSN: 09170480
• NDL書誌ID: 026355863
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026355863
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jcorr/64/4/64_139/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可