マイクロ波原子間力顕微鏡の開発

• 巨 陽

• 細井 厚志

書誌事項

タイトル別名

• マイクロハ ゲンシ カンリョク ケンビキョウ ノ カイハツ
• Development of Microwave Atomic Force Microscope
• 電界計測の非破壊評価応用
• デンカイ ケイソク ノ ヒハカイ ヒョウカ オウヨウ

収録刊行物

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 64 (7), 314-318, 2015-07

  [東京] : 日本非破壊検査協会

キーワード

• マイクロ波
• 非破壊検査
• 原子間力顕微鏡
• 表面形状
• 導電率

詳細情報

• CRID: 1520290883451062144
• NII論文ID: 40020525730
• NII書誌ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL書誌ID: 026590892
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026590892
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles