16nm FinFETの容量解析と性能・面積検討

• 岡垣 健

• 渋谷 宏治

• 森本 薫夫

書誌事項

タイトル別名

• 16nm FinFET ノ ヨウリョウ カイセキ ト セイノウ ・ メンセキ ケントウ
• Area and Performance Study of FinFET with Detailed Parasitic Capacitance Analysis in 16nm Process Node
• 集積回路
• シュウセキ カイロ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115 (191), 37-40, 2015-08

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• FinFET
• 寄生容量
• Parasitic Capacitance

詳細情報

• CRID: 1520290882982767360
• NII論文ID: 40020588517
• NII論文ID: 40020588698
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 026739853
• NDL書誌ID: 026740196
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/026739853
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026739853
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/026740196
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026740196
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles