電子顕微鏡を用いた鋼板表面解析技術

• 名越 正泰

  JFEスチール株式会社 スチール研究所

書誌事項

タイトル別名

• Electron Microscopic Techniques for Surface Analysis of Steel Products
• デンシ ケンビキョウ オ モチイタ コウバン ヒョウメン カイセキ ギジュツ

抄録

走査電子顕微鏡（SEM），透過電子顕微鏡（TEM），に集束イオンビーム（FIB）を用いた鋼板表面解析技術をレビューする．最近の解析技術の進歩を，防食皮膜や腐食部を含む鋼板の表面，表層断面についての我々の研究結果を示しながら紹介する．

収録刊行物

• Ｚａｉｒｙｏ‐ｔｏ‐Ｋａｎｋｙｏ

  Ｚａｉｒｙｏ‐ｔｏ‐Ｋａｎｋｙｏ 64 (9), 381-387, 2015

  公益社団法人 腐食防食学会

キーワード

• 電子顕微鏡
• 集束イオンビーム
• 鋼板表面
• 表面処理
• 腐食

詳細情報

• CRID: 1390001206259595520
• NII論文ID: 130005131098
• NII書誌ID: AN10235427
• DOI: 10.3323/jcorr.64.381
• ISSN: 18819664
• ISSN: 09170480
• NDL書誌ID: 026748067
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026748067
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jcorr/64/9/64_381/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可