貪欲法による組み合わせテスト集合生成における高速化について

• 大橋 輝

• 土屋 達弘

書誌事項

タイトル別名

• ドンヨクホウ ニ ヨル クミアワセ テスト シュウゴウ セイセイ ニ オケル コウソクカ ニ ツイテ
• Improving the greedy approach to constructing combinatorial test suites
• ソフトウェアサイエンス
• ソフトウェア サイエンス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115 (248), 13-15, 2015-10

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 組み合わせテスト
• 貪欲法
• ペアワイズ法
• テスト集合
• Combinatorial testing
• greedy approach
• pair-wise testing
• test set

詳細情報

• CRID: 1520572357252536320
• NII論文ID: 40020649922
• NII論文ID: 40020650085
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 026908402
• NDL書誌ID: 026908656
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026908402
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I026908656
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles