FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討

• 喜納 猛

• 三宅 庸資

• 佐藤 康夫

Bibliographic Information

Other Title

• FPGA ノ オンチップ チエン ソクテイ ニ オケル オンド エイキョウ ホセイ ノ ケントウ
• On Correction of Temperature Influence to Delay Measurement in FPGAs
• ディペンダブルコンピューティング
• ディペンダブルコンピューティング

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 115 (339), 165-170, 2015-12

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• FPGA
• 論理BIST
• 遅延測定
• 可変テストタイミング
• Logic BIST
• Delay measurement
• Variable test timing

Details

• CRID: 1520290883208098688
• NII Article ID: 40020701455
• NII Article ID: 40020700438
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 027038933
• NDL BIB ID: 027037004
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027038933
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027037004
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles