光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定

• 田口 大

• 間中 孝彰

• 岩本 光正

書誌事項

タイトル別名

• ヒカリ EFISHGホウ ニ ヨル ユウキ EL ソシ ノ ヒハカイ ジュミョウ スイテイ
• Nondestructive OLED diagnostics by using optical EFISHG technique
• 超伝導エレクトロニクス
• チョウデンドウ エレクトロニクス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 (441), 59-64, 2017-01

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 光第2次高調波発生
• 非破壊測定
• 有機EL
• 寿命推定
• electric-field-induced optical second-harmonic generation
• non-destructive measurement
• organic light-emitting diode
• Diagnostic method

詳細情報

• CRID: 1520009409375738112
• NII論文ID: 40021100154
• NII論文ID: 40021099494
• NII論文ID: 40021099137
• NII論文ID: 40021100632
• NII論文ID: 40021100855
• NII論文ID: 40021100470
• NII論文ID: 40021098917
• NII論文ID: 40021100750
• NII論文ID: 40021099320
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 027983481
• NDL書誌ID: 027986753
• NDL書誌ID: 027986301
• NDL書誌ID: 027982976
• NDL書誌ID: 027983279
• NDL書誌ID: 027983684
• NDL書誌ID: 027986631
• NDL書誌ID: 027986501
• NDL書誌ID: 027985794
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027983481
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027986753
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027986301
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027982976
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027983279
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027983684
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027986631
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027986501
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027985794
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles