光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命推定

• 田口 大

• 間中 孝彰

• 岩本 光正

Bibliographic Information

Other Title

• ヒカリ EFISHGホウ ニ ヨル ユウキ EL ソシ ノ ヒハカイ ジュミョウ スイテイ
• Nondestructive OLED diagnostics by using optical EFISHG technique
• 超伝導エレクトロニクス
• チョウデンドウ エレクトロニクス

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 (441), 59-64, 2017-01

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 光第2次高調波発生
• 非破壊測定
• 有機EL
• 寿命推定
• electric-field-induced optical second-harmonic generation
• non-destructive measurement
• organic light-emitting diode
• Diagnostic method

Details

• CRID: 1520009409375738112
• NII Article ID: 40021100154
• NII Article ID: 40021099494
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• NII Article ID: 40021100855
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• NII Article ID: 40021099320
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• ISSN: 09135685
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• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027986631
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027986501
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I027985794
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles