重み付け平均による単粒子解析法の高解像度化

• 岸田 俊文

• 米倉 功治

• 畑 豊

書誌事項

タイトル別名

• オモミズケ ヘイキン ニ ヨル タンリュウシ カイセキホウ ノ コウカイゾウドカ
• Improvement of resolution of single particle analysis by weighted average

収録刊行物

• システム制御情報学会研究発表講演会講演論文集

  システム制御情報学会研究発表講演会講演論文集 61 4p-, 2017-05

  京都 : システム制御情報学会

詳細情報

• CRID: 1520572358619300992
• NII論文ID: 40021221130
• NII書誌ID: AN10257408
• NDL書誌ID: 028290563
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028290563
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM11(科学技術--科学技術一般--制御工学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles