半導体製品におけるガス腐食試験における問題点と実使用環境下での腐食耐性

• 飯塚 和宏

• 福士 俊光

• 知野 泰弘

• 瀬戸屋 孝

書誌事項

タイトル別名

• ハンドウタイ セイヒン ニ オケル ガス フショク シケン ニ オケル モンダイテン ト ジツ シヨウ カンキョウ カ デ ノ フショク タイセイ
• Problem in gas corrosion test of semiconductor products and gas corrosion resistance in the actual use

収録刊行物

• 信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability

  信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability 47 126-131, 2017-07

  [東京] : [日本科学技術連盟]

キーワード

• ガス腐食試験
• めっき引出線
• 大気暴露試験
• 腐食異物

詳細情報

• CRID: 1523106604888777472
• NII論文ID: 40021253759
• NDL書誌ID: 028360196
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/028360196
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028360196
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM5(科学技術--科学技術一般--工学・工業)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles