表面/材料分析講座 走査型プローブ顕微鏡/原子間力顕微鏡

• 中島 秀郎

• 粉川 良平

書誌事項

タイトル別名

• ヒョウメン/ザイリョウ ブンセキ コウザ ソウサガタ プローブ ケンビキョウ/ゲンシ カンリョク ケンビキョウ

収録刊行物

• 防錆管理 / 日本防錆技術協会 [編]

  防錆管理 / 日本防錆技術協会 [編] 64 (1), 20-27, 2020-01

  東京 : 日本防錆技術協会

キーワード

• 走査型プローブ顕微鏡
• SPM
• 原子間力顕微鏡
• AFM
• 高分解能観察
• 液中観察
• 電気化学AFM
• Conductive AFM (CAFM)
• 電流像
• Kelvin Probe Force Microscope (KPFM)
• 表面電位像
• 弾性率測定
• 雰囲気制御SPM

詳細情報

• CRID: 1520853833459164160
• NII論文ID: 40022121128
• NII書誌ID: AN00225711
• ISSN: 05206340
• NDL書誌ID: 030184937
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I030184937
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles