A systematic method of determining Bravais lattice in X-ray crystallography and its application to crystal structure analysis ブラベ格子を決定する新しい方式の開発とそのX線結晶解析への応用

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著者

    • 片山, 忠二 カタヤマ, チュウジ

書誌事項

タイトル

A systematic method of determining Bravais lattice in X-ray crystallography and its application to crystal structure analysis

タイトル別名

ブラベ格子を決定する新しい方式の開発とそのX線結晶解析への応用

著者名

片山, 忠二

著者別名

カタヤマ, チュウジ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

乙第2924号

学位授与年月日

1985-12-05

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000000362
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000000362
  • NDL書誌ID
    • 000000164674
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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