薄膜材料の電子論的評価に関する研究

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著者

    • 不破, 耕 フワ, コウ

書誌事項

タイトル

薄膜材料の電子論的評価に関する研究

著者名

不破, 耕

著者別名

フワ, コウ

学位授与大学

早稲田大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第728号

学位授与年月日

1987-03-07

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000012658
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000012665
  • NDL書誌ID
    • 000000176972
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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