レーザラマン分光法による化合物半導体表面および界面の評価

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著者

    • 江口, 和弘 エグチ, カズヒロ

書誌事項

タイトル

レーザラマン分光法による化合物半導体表面および界面の評価

著者名

江口, 和弘

著者別名

エグチ, カズヒロ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第7061号

学位授与年月日

1986-03-29

注記・抄録

博士論文

報告番号: 甲07061 ; 学位授与年月日: 1986-03-29 ; 学位の種別: 課程博士 ; 学位の種類: 工学博士 ; 学位記番号: 博工第2001号 ; 研究科・専攻: 工学系研究科電子工学専攻

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000024563
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000024596
  • 本文言語コード
    • jpn
  • NDL書誌ID
    • 000000188877
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
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