記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法

この論文をさがす

著者

    • 中田, 恒夫 ナカタ, ツネオ

書誌事項

タイトル

記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法

著者名

中田, 恒夫

著者別名

ナカタ, ツネオ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第7192号

学位授与年月日

1986-04-17

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000030998
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000031054
  • NDL書誌ID
    • 000000195312
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ