記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法

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Author

    • 中田, 恒夫 ナカタ, ツネオ

Bibliographic Information

Title

記号処理を用いた論理回路の故障診断・テスト生成手法

Author

中田, 恒夫

Author(Another name)

ナカタ, ツネオ

University

東京大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

甲第7192号

Degree year

1986-04-17

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (4コマ目)
0access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000030998
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000031054
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000195312
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections

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