MOSトランジスターに於けるホットキャリア効果とサブミクロンデバイス構造の研究

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著者

    • 武田, 英次 タケダ, エイジ

書誌事項

タイトル

MOSトランジスターに於けるホットキャリア効果とサブミクロンデバイス構造の研究

著者名

武田, 英次

著者別名

タケダ, エイジ

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第8332号

学位授与年月日

1987-03-19

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000031834
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000031890
  • NDL書誌ID
    • 000000196148
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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