MOS型半導体集積回路における表面現象に関する研究

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著者

    • 岩松, 誠一 イワマツ, セイイチ

書誌事項

タイトル

MOS型半導体集積回路における表面現象に関する研究

著者名

岩松, 誠一

著者別名

イワマツ, セイイチ

学位授与大学

大阪府立大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第420号

学位授与年月日

1984-03-30

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000033377
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000033434
  • NDL書誌ID
    • 000000197691
  • データ提供元
    • NDL ONLINE
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