両面X線照射法による平板及び中空円筒の残留応力測定理論

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著者

    • 井村, 隆 イムラ, タカシ

書誌事項

タイトル

両面X線照射法による平板及び中空円筒の残留応力測定理論

著者名

井村, 隆

著者別名

イムラ, タカシ

学位授与大学

北海道大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第2544号

学位授与年月日

1983-12-24

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000034096
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000034156
  • NDL書誌ID
    • 000000198410
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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