耐放射線強化高性能CMOS VLSI回路の研究

この論文をさがす

著者

    • 波多野, 裕 ハタノ, ヒロシ

書誌事項

タイトル

耐放射線強化高性能CMOS VLSI回路の研究

著者名

波多野, 裕

著者別名

ハタノ, ヒロシ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第3346号

学位授与年月日

1988-02-25

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000036697
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000036759
  • NDL書誌ID
    • 000000201011
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ