An analytical study of radiation effects on a solid surface in low-energy SIMS 低エネルギー二次イオン質量分析法における励起イオンの固体表面原子への照射効果に関する分析化学的検討

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Author

    • 山本, 博之 ヤマモト, ヒロユキ

Bibliographic Information

Title

An analytical study of radiation effects on a solid surface in low-energy SIMS

Other Title

低エネルギー二次イオン質量分析法における励起イオンの固体表面原子への照射効果に関する分析化学的検討

Author

山本, 博之

Author(Another name)

ヤマモト, ヒロユキ

University

東京理科大学

Types of degree

理学博士

Grant ID

甲第112号

Degree year

1988-03-20

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (4コマ目)
0access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000039376
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000039447
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000203690
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections

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