Analytical characterization of amorphous semiconductors and devices アモルファス半導体およびデバイスの分析・特性評価

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

    • 深田, 昇 フカダ, ノボル

書誌事項

タイトル

Analytical characterization of amorphous semiconductors and devices

タイトル別名

アモルファス半導体およびデバイスの分析・特性評価

著者名

深田, 昇

著者別名

フカダ, ノボル

学位授与大学

大阪大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第4479号

学位授与年月日

1988-06-09

注記・抄録

博士論文

08280

博士(工学)

1988-06-09

大阪大学

14401乙第04479号

0アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000040102
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000040174
  • NDL書誌ID
    • 000000204416
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
ページトップへ