交差ビーム法による微分散乱断面積の測定 : K[+]-Ar, K[+]-Neの電子励起過程

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著者

    • 伊澤, 正陽 イサワ, マサアキ

書誌事項

タイトル

交差ビーム法による微分散乱断面積の測定 : K[+]-Ar, K[+]-Neの電子励起過程

著者名

伊澤, 正陽

著者別名

イサワ, マサアキ

学位授与大学

東北大学

取得学位

理学博士

学位授与番号

甲第3230号

学位授与年月日

1984-03-27

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000041300
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000041374
  • NDL書誌ID
    • 000000205614
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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