液晶式フリッカ値測定装置およびまばたき発生パターン解析方法の開発とその応用 : 大脳活動水準評価に関連して

Search this Article

Author

    • 保坂, 良資 ホサカ, リョウスケ

Bibliographic Information

Title

液晶式フリッカ値測定装置およびまばたき発生パターン解析方法の開発とその応用 : 大脳活動水準評価に関連して

Author

保坂, 良資

Author(Another name)

ホサカ, リョウスケ

University

工学院大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

甲第7号

Degree year

1984-03-31

Note and Description

博士論文

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000041604
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000041679
  • NDLBibID
    • 000000205918
  • Source
    • NDL ONLINE
Page Top