MNOS形記憶素子の劣化機構と低電圧化の研究
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Author
Bibliographic Information
- Title
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MNOS形記憶素子の劣化機構と低電圧化の研究
- Author
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鈴木, 英一
- Author(Another name)
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スズキ, エイイチ
- University
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東京大学
- Types of degree
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工学博士
- Grant ID
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乙第6637号
- Degree year
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1983-10-20
Note and Description
博士論文