光波干渉による長さ測定の精度と能率の向上に関する研究

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著者

    • 清野, 昭一 セイノ, ショウイチ

書誌事項

タイトル

光波干渉による長さ測定の精度と能率の向上に関する研究

著者名

清野, 昭一

著者別名

セイノ, ショウイチ

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第1265号

学位授与年月日

1983-07-31

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000043470
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000043547
  • NDL書誌ID
    • 000000207784
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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