Defect and structural fluctuation in tetrahedrally bonded amorphous semiconductors テトラヘドラル系アモルファス半導体における欠陥および構造のゆらぎ

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著者

    • 石井, 信彦 イシイ, ノブヒコ

書誌事項

タイトル

Defect and structural fluctuation in tetrahedrally bonded amorphous semiconductors

タイトル別名

テトラヘドラル系アモルファス半導体における欠陥および構造のゆらぎ

著者名

石井, 信彦

著者別名

イシイ, ノブヒコ

学位授与大学

広島大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第1633号

学位授与年月日

1987-10-15

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000045770
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000045853
  • NDL書誌ID
    • 000000210084
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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