In-situ high resolution electron microscopy observation of the interphase interfaces 異相界面の高分解能電子顕微鏡法によるその場観察

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著者

    • 佐々木, 勝寛 ササキ, カツヒロ

書誌事項

タイトル

In-situ high resolution electron microscopy observation of the interphase interfaces

タイトル別名

異相界面の高分解能電子顕微鏡法によるその場観察

著者名

佐々木, 勝寛

著者別名

ササキ, カツヒロ

学位授与大学

名古屋大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第2197号

学位授与年月日

1989-03-25

注記・抄録

博士論文

名古屋大学博士学位論文 学位の種類:工学博士 (課程) 学位授与年月日:平成1年3月25日

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000052198
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000052314
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000000216512
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
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