In-situ high resolution electron microscopy observation of the interphase interfaces 異相界面の高分解能電子顕微鏡法によるその場観察

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Author

    • 佐々木, 勝寛 ササキ, カツヒロ

Bibliographic Information

Title

In-situ high resolution electron microscopy observation of the interphase interfaces

Other Title

異相界面の高分解能電子顕微鏡法によるその場観察

Author

佐々木, 勝寛

Author(Another name)

ササキ, カツヒロ

University

名古屋大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

甲第2197号

Degree year

1989-03-25

Note and Description

博士論文

名古屋大学博士学位論文 学位の種類:工学博士 (課程) 学位授与年月日:平成1年3月25日

Table of Contents

  1. 目次 (5コマ目)
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Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000052198
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000052314
  • DOI(NDL)
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 000000216512
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
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