画像解析を用いたホワイトシリコーンの平均被膜厚さ測定法に関する実験的研究

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著者

    • 鶴岡, 美帆 ツルオカ, ミホ

書誌事項

タイトル

画像解析を用いたホワイトシリコーンの平均被膜厚さ測定法に関する実験的研究

著者名

鶴岡, 美帆

著者別名

ツルオカ, ミホ

学位授与大学

鶴見大学

取得学位

歯学博士

学位授与番号

甲第65号

学位授与年月日

1989-03-15

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000056722
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000056865
  • NDL書誌ID
    • 000000221036
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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