Raman scattering characterization of small semiconductor particles 半導体微粒子のラマン散乱による評価

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著者

    • 岡田, 正 オカダ, タダシ

書誌事項

タイトル

Raman scattering characterization of small semiconductor particles

タイトル別名

半導体微粒子のラマン散乱による評価

著者名

岡田, 正

著者別名

オカダ, タダシ

学位授与大学

神戸大学

取得学位

学術博士

学位授与番号

乙第1300号

学位授与年月日

1989-04-28

注記・抄録

博士論文

1アクセス

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000058666
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000058820
  • 本文言語コード
    • eng
  • NDL書誌ID
    • 000000222980
  • データ提供元
    • 機関リポジトリ
    • NDL-OPAC
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