Raman scattering characterization of small semiconductor particles 半導体微粒子のラマン散乱による評価

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Author

    • 岡田, 正 オカダ, タダシ

Bibliographic Information

Title

Raman scattering characterization of small semiconductor particles

Other Title

半導体微粒子のラマン散乱による評価

Author

岡田, 正

Author(Another name)

オカダ, タダシ

University

神戸大学

Types of degree

学術博士

Grant ID

乙第1300号

Degree year

1989-04-28

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (6コマ目)
2access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000058666
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000058820
  • DOI(NDL)
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 000000222980
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections

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