Study on low-aberration index-profile formation of ion-exchanged planar microlens イオン交換による平板マイクロレンズの低収差屈折率分布形成に関する研究

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著者

    • 朱, 暁凡 シュ, ギョウハン

書誌事項

タイトル

Study on low-aberration index-profile formation of ion-exchanged planar microlens

タイトル別名

イオン交換による平板マイクロレンズの低収差屈折率分布形成に関する研究

著者名

朱, 暁凡

著者別名

シュ, ギョウハン

学位授与大学

東京工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第2068号

学位授与年月日

1989-03-26

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000060188
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000060345
  • NDL書誌ID
    • 000000224502
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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