Chemical structures and electronic properties of silicon nitride films シリコン窒化膜の化学構造と電子物性に関する研究

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Author

    • 藤田, 静雄 フジタ, シズオ

Bibliographic Information

Title

Chemical structures and electronic properties of silicon nitride films

Other Title

シリコン窒化膜の化学構造と電子物性に関する研究

Author

藤田, 静雄

Author(Another name)

フジタ, シズオ

University

京都大学

Types of degree

工学博士

Grant ID

乙第7243号

Degree year

1990-05-23

Note and Description

博士論文

本文データは国立国会図書館の学位論文(博士)のデジタル化事業により作成された画像ファイルを基にpdf変換したものである

Table of Contents

  1. 目次 (8コマ目)
3access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000067027
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000067201
  • DOI(NDL)
  • Text Lang
    • eng
  • NDLBibID
    • 000000231341
  • Source
    • Institutional Repository
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
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