格子定数の精密測定法による半導体結晶の不完全性の研究

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Author

    • 岡田, 安正 オカダ, ヤスマサ

Bibliographic Information

Title

格子定数の精密測定法による半導体結晶の不完全性の研究

Author

岡田, 安正

Author(Another name)

オカダ, ヤスマサ

University

東北大学

Types of degree

理学博士

Grant ID

乙第5306号

Degree year

1990-06-27

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (4コマ目)
  2. 副論文 (197コマ目)
  3. 副論文 (202コマ目)
  4. 副論文 (209コマ目)
  5. 副論文 (212コマ目)
  6. 副論文 (218コマ目)
  7. 副論文 (220コマ目)
  8. 参考論文 (224コマ目)
  9. 参考論文 (230コマ目)
  10. 参考論文 (236コマ目)
  11. 参考論文 (242コマ目)
  12. 参考論文 (249コマ目)
  13. 参考論文 (252コマ目)
1access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000069386
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000069571
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000233700
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections
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