Random-access memory testing by use of M-sequences M系列を用いるICメモリの故障診断

この論文をさがす

著者

    • Rao, Gururaj K ラオ, グルラジュ キディヨール

書誌事項

タイトル

Random-access memory testing by use of M-sequences

タイトル別名

M系列を用いるICメモリの故障診断

著者名

Rao, Gururaj K

著者別名

ラオ, グルラジュ キディヨール

学位授与大学

熊本大学

取得学位

学術博士

学位授与番号

甲第12号

学位授与年月日

1990-03-24

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000070088
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000070274
  • NDL書誌ID
    • 000000234402
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
ページトップへ