Random-access memory testing by use of M-sequences M系列を用いるICメモリの故障診断

Access this Article

Search this Article

Author

    • Rao, Gururaj K ラオ, グルラジュ キディヨール

Bibliographic Information

Title

Random-access memory testing by use of M-sequences

Other Title

M系列を用いるICメモリの故障診断

Author

Rao, Gururaj K

Author(Another name)

ラオ, グルラジュ キディヨール

University

熊本大学

Types of degree

学術博士

Grant ID

甲第12号

Degree year

1990-03-24

Note and Description

博士論文

Table of Contents

  1. 目次 (7コマ目)
0access

Codes

  • NII Article ID (NAID)
    500000070088
  • NII Author ID (NRID)
    • 8000000070274
  • DOI(NDL)
  • NDLBibID
    • 000000234402
  • Source
    • NDL ONLINE
    • NDL Digital Collections

Export

Page Top