Random-access memory testing by use of M-sequences M系列を用いるICメモリの故障診断
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Author
Bibliographic Information
- Title
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Random-access memory testing by use of M-sequences
- Other Title
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M系列を用いるICメモリの故障診断
- Author
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Rao, Gururaj K
- Author(Another name)
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ラオ, グルラジュ キディヨール
- University
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熊本大学
- Types of degree
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学術博士
- Grant ID
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甲第12号
- Degree year
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1990-03-24
Note and Description
博士論文
Table of Contents
- 目次 (7コマ目)