Development of the field ion-scanning tunneling microscope and its applications 電界イオン-走査トンネル顕微鏡の開発とその応用

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著者

    • 神谷, 格 カミヤ, イタル

書誌事項

タイトル

Development of the field ion-scanning tunneling microscope and its applications

タイトル別名

電界イオン-走査トンネル顕微鏡の開発とその応用

著者名

神谷, 格

著者別名

カミヤ, イタル

学位授与大学

東京大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

甲第8355号

学位授与年月日

1989-10-12

注記・抄録

博士論文

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000070866
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000071055
  • NDL書誌ID
    • 000000235180
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
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