Design study on high contact reliability plastic-sealed relay 樹脂封止リレーの高接触信頼性設計に関する研究

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著者

    • 吉田, 和久 ヨシダ, カズヒサ

書誌事項

タイトル

Design study on high contact reliability plastic-sealed relay

タイトル別名

樹脂封止リレーの高接触信頼性設計に関する研究

著者名

吉田, 和久

著者別名

ヨシダ, カズヒサ

学位授与大学

名古屋工業大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第20号

学位授与年月日

1990-12-06

注記・抄録

博士論文

目次

  1. Contents / p3 (0004.jp2)
  2. §1.Introduction / p1 (0006.jp2)
  3. 1.1 Necessity of this study / p1 (0006.jp2)
  4. 1.2 Historical background of this study / p9 (0010.jp2)
  5. 1.3 Abstract of this study / p16 (0014.jp2)
  6. §2.Reliability of the plastic sealed relay / p19 (0015.jp2)
  7. 2.1 Introduction / p19 (0015.jp2)
  8. 2.2 Experiment / p20 (0016.jp2)
  9. 2.3 Reliability running test results and discussion / p23 (0017.jp2)
  10. 2.4 Environmental test results / p30 (0021.jp2)
  11. 2.5 Conclusion / p35 (0023.jp2)
  12. §3.Evaluation of contact failure by vaporized organic gases / p36 (0024.jp2)
  13. 3.1 Introduction / p36 (0024.jp2)
  14. 3.2 Experiment / p38 (0025.jp2)
  15. 3.3 Experimental results / p46 (0029.jp2)
  16. 3.4 Discussion / p57 (0035.jp2)
  17. 3.5 Conclusion / p61 (0037.jp2)
  18. §4.Study of contact phenomena in the vaporized organic gas atmosphere / p63 (0038.jp2)
  19. 4.1 Introduction / p63 (0038.jp2)
  20. 4.2 Experiment / p64 (0039.jp2)
  21. 4.3 Test result and discussion / p69 (0041.jp2)
  22. 4.4 Conclusion / p79 (0047.jp2)
  23. §5.Evaluation of cleanliness level of contact surface,required to achieve high contact reliability / p80 (0047.jp2)
  24. 5.1 Introduction / p80 (0047.jp2)
  25. 5.2 Experiment / p82 (0048.jp2)
  26. 5.3 Experimental results / p86 (0050.jp2)
  27. 5.4 Discussion / p92 (0053.jp2)
  28. 5.5 Conclusion / p99 (0057.jp2)
  29. §6.Study of contact cleaning methods for relays of high contact reliability / p101 (0058.jp2)
  30. 6.1 Introduction / p101 (0058.jp2)
  31. 6.2 Experiment / p102 (0059.jp2)
  32. 6.3 Test results / p105 (0060.jp2)
  33. 6.4 Discussion / p110 (0063.jp2)
  34. 6.5 Conclusion / p115 (0065.jp2)
  35. §7.A study of contact failure mechanism at low electrical load / p116 (0066.jp2)
  36. 7.1 Introduction / p116 (0066.jp2)
  37. 7.2 Experiment / p117 (0066.jp2)
  38. 7.3 Experimental results / p120 (0068.jp2)
  39. 7.4 Discussion / p126 (0071.jp2)
  40. 7.5 Conclusion / p128 (0072.jp2)
  41. §8.Summary / p129 (0072.jp2)
  42. Acknowledgments / p134 (0075.jp2)
  43. References / p135 (0075.jp2)
  44. Papers / p144 (0080.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000072209
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000072402
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000236523
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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