画像解析による材料評価方法とその応用に関する研究

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著者

    • 吉冨, 康成, 1956- ヨシトミ, ヤスナリ

書誌事項

タイトル

画像解析による材料評価方法とその応用に関する研究

著者名

吉冨, 康成, 1956-

著者別名

ヨシトミ, ヤスナリ

学位授与大学

京都大学

取得学位

工学博士

学位授与番号

乙第7493号

学位授与年月日

1991-03-23

注記・抄録

博士論文

目次

  1. 論文目録 / (0001.jp2)
  2. 目次 / (0006.jp2)
  3. 第1章 序論 / p1 (0008.jp2)
  4. 参考文献 / p7 (0011.jp2)
  5. 第2章 位相差画像処理による結晶組織解析方法 / p10 (0013.jp2)
  6. 1.緒言 / p10 (0013.jp2)
  7. 2.位相差画像処理による結晶組織解析方法 / p10 (0013.jp2)
  8. 3.解析精度 / p12 (0014.jp2)
  9. 4.小括 / p14 (0015.jp2)
  10. 参考文献 / p16 (0016.jp2)
  11. 第3章 TEM画像処理による析出物解析方法 / p17 (0016.jp2)
  12. 1.緒言 / p17 (0016.jp2)
  13. 2.TEM画像処理による析出物解析方法 / p17 (0016.jp2)
  14. 3.解析精度 / p21 (0018.jp2)
  15. 4.小括 / p27 (0021.jp2)
  16. 参考文献 / p28 (0022.jp2)
  17. 第4章 Fe-3%Si合金の2次再結晶におけるインヒビターの役割について / p29 (0022.jp2)
  18. 1.緒言 / p29 (0022.jp2)
  19. 2.実験方法 / p30 (0023.jp2)
  20. 3.実験結果 / p30 (0023.jp2)
  21. 4.考察 / p34 (0025.jp2)
  22. 5.小括 / p44 (0030.jp2)
  23. 参考文献 / p46 (0031.jp2)
  24. 第5章 ECP画像処理による結晶方位自動解析方法 / p48 (0032.jp2)
  25. 1.緒言 / p48 (0032.jp2)
  26. 2.ECP画像処理による結晶方位自動解析方法 / p49 (0032.jp2)
  27. 3.適用例 / p58 (0037.jp2)
  28. 4.小括 / p61 (0038.jp2)
  29. 参考文献 / p63 (0039.jp2)
  30. 第6章 ECP画像処理による結晶歪測定方法 / p65 (0040.jp2)
  31. 1.緒言 / p65 (0040.jp2)
  32. 2.ECP画像処理による結晶歪測定方法 / p65 (0040.jp2)
  33. 3.適用例 / p68 (0042.jp2)
  34. 4.小括 / p80 (0048.jp2)
  35. 参考文献 / p88 (0052.jp2)
  36. 第7章 ECPにおける1次の擬菊池線の鮮明度解析による結晶歪測定方法 / p90 (0053.jp2)
  37. 1.緒言 / p90 (0053.jp2)
  38. 2.ECPにおける1次の擬菊池線の鮮明度解析による結晶歪測定方法 / p90 (0053.jp2)
  39. 3.適用例 / p93 (0054.jp2)
  40. 4.小括 / p113 (0064.jp2)
  41. 参考文献 / p114 (0065.jp2)
  42. 第8章 結論 / p115 (0065.jp2)
  43. 謝辞 / p118 (0067.jp2)
  44. 付録 本研究に用いた画像処理手法について / p120 (0068.jp2)
  45. 参考文献 / p127 (0072.jp2)
  46. 本研究に関係する論文 / p128 (0072.jp2)
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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    500000073987
  • NII著者ID(NRID)
    • 8000000991838
  • DOI(NDL)
  • NDL書誌ID
    • 000000238301
  • データ提供元
    • NDL-OPAC
    • NDLデジタルコレクション
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